Pomiary za pomocą NanoVNA

[SP9FKP]

NanoVNA można również użyć (w ograniczonym zakresie) do pomiaru elementów dyskretnych. Potrzebna będzie przystawka, która umożliwi nam podłączenie badanego elementu do zacisków CH0 i zestaw kalibracyjny. Ja do celów testu wykonałem takową w oparciu o złącze SMA, kawałek płytki uniwersalnej, listwy pinów precyzyjnych i blaszki niklowo-stalowej

"Zestaw kalibracyjny" to kawałeczek blaszki z 3 pinami dla testu "SHORT" i rezystor 50 omów 0.5W MŁT. To bardzo skromne i można zrobić lepiej.

Przed rozpoczęciem pomiarów należy wybrać zakres kalibracji z polecenia "STIMULUS". Ja testowałem 50 kHz do 50 MHz. Kolejno wykonujemy kalibrację OSL i kończymy "DONE IN RAM". Pozwoli to oszczędzić liczbę zapisów do EPROM i SD.
Teraz wybieramy jeden z kanałów (resztę można wyłączyć w menu "TRACE") i zmieniamy formę prezentacji wyników w menu "SMITH" na "R+L/C". I możemy rozpocząć nasze pomiary.
Poniżej przykładowe wyniki.


Pozostaje kwestia wyboru częstotliwości na której odczytujemy wynik. Logicznym wydaje się, że im mniejsza wartość tym większa częstotliwość i odwrotnie. I to się potwierdza, z wyjątkiem gdy zbliżamy się do rezonansów własnych elementu. Generalnie, jeśli poprawnie skalibrujemy przyrząd, zmiana odczytanej wartości jest niewielka. W zakresie dużych wartości (nF i mH) za punkt odniesienia wybieramy częstotliwość gdzie faza zbliża się do 90st.
A co się stanie jak połączymy ze sobą szeregowo zmierzone elementy, kondensator 17.4pF z dławikiem 2.24uH?

Zachęcam do eksperymentów i podzielenia Waszymi wynikami.